OFC 2026 - 矽光子封裝進階互連技術:解構 AI 推論架構的最後一哩路 - GlobalFoundries
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在 AI 算力需求爆炸的 2026 年,光纖與晶片間的「最後一哩路」已成為算力互連的效能瓶頸。在今年 OFC 2026 的技術論壇中,GlobalFoundries (GF) 晶圓代工廠技術架構師 Kevin Dezfulian 針對 AI 推論解決方案,深入探討了矽光子(SiPh)封裝中從「永久固定」轉向「可拆卸(Detachable)」互連技術的必然趨勢 。這場演說不僅揭示了 GF 在 CPO(共同封裝光學)領域的進度,更點出了封裝測試(Test)與量產計量學(Metrology)在 2.5D/3D 整合中的核心挑戰。
矽光子封裝演進:從 PIC 到光電主動中介層 (OE Interposer)
GF 將目前的封裝形態簡化為四大演進階段,這對理解未來 GPU/NPU 的整合路徑至關重要:
PIC Face-Up (Wire Bound): 傳統打金線封裝,目前已趨於成熟但頻寬受限 。
CPO / GPU 整合架構: 透過 TSV(矽穿孔) 實現 3D 疊層,讓 PIC 直接作為光學中介層(Optical Interposer) 。
主動式光學中介層 (Active Interposer): 依賴單晶矽光技術(Monolithic Photonic),將多個異質整合的電路晶粒(Electrical Die)放置於 PIC 之上,直接在 PIC 內部進行運算 。
被動 OE 中介層: 針對超過一個 Reticle(光罩) 寬度的大尺寸晶片,在矽基板上同時佈建光學與電學訊號路由 。
關鍵轉捩點:為何「可拆卸光纖」是 1.6T 時代的剛需?
目前的市場標竿是 Direct Attach(直接黏合) 技術,其光纖間距(Pitch)通常為 127µm 或 250µm,且已通過嚴苛的可靠性測試 。然而,GF 點出其致命傷:當 CPO 需要支持超過 100 根光纖 的高密度需求時,永久固定的「豬尾巴(Pigtails)」會讓封裝組裝成本變得不可接受 。
為了克服此點,GF 提出了兩大技術路徑:
1. GlassBridge 技術 (與 Corning 合作)
透過圖案化玻璃技術,將標準的 V-groove 結構轉接至標準光纖連接器。此方案能大幅簡化組裝流程,具備低插入損耗(Low Insertion Loss)與低偏振模色散(Low PMD)的特性 。

2. 擴大模場與準直技術 (Mode Expansion & Collimation)
面對波導模場僅 1µm 而封裝容差達 5-20µm 的物理矛盾,GF 採用了擴大模場與準直技術來放寬物理對準的敏感度 。
轉向反射鏡 (Turning Mirror): 相較於光柵耦合器(Grating Coupler)在 O-band 頻寬受限且偏振損耗(PDL)較高的缺點,GF 傾向使用微光學元件嵌入式腔體(Micro-optic Cavity)的轉向鏡方案,提供更穩定的寬頻表現 。
生態系數據對陣:Teramount 與 Senko 的技術解法
GF 在現場揭露了兩大合作夥伴的最新實測數據:
Terabaud (Teramount 解決方案): 採用微光學插拔設計,其核心優勢在於 Wide Acceptance Optics(廣角接收光學),這讓封裝設計不再需要極端精密的對準,目前已在 GF 展位進行實測 Demo 。
Senko 可拆卸連接器: 這是 GF 首次公開分享此數據。Senko 方案採用 主動對準(Active Alignment) 機制在封裝層級尋找光訊號,實測顯示損耗更低,且在多次插拔(Loopbacks)中展現出極高的重複穩定性 。

製造與測試:從晶圓級到 OE Die Sort 的挑戰
Dezfulian 強調,矽光子測試技術目前雖已「起步」但尚未「成熟」 。為了確保量產良率,GF 導入了多層級的檢測機制:
線上計量 (Inline Metrology): 利用 共軛焦顯微鏡 (Confocal Microscopy) 與 2D/3D 檢測系統,針對複雜的三維結構進行即時監控 。
先進測試探針: 使用 潛望式光學探針 (Periscope Optical Probes) 深入檢測微觀組裝後的結構 。
OE Die Sort: 為了產生「已知合格晶粒(KGD)」,GF 正在建立一套需同時進行 正反面探針測試 (Front side & Back side probing) 的系統,這在實務上極具挑戰性 。
Simple Tech Trend 觀點:封裝即是未來的護城河
GF 正在美國本土建立一套完整的封裝組裝系統,涵蓋從晶圓測試、加工到最後的部署單元 。這傳遞出一個強烈訊號:在矽光子領域,單純提供 Foundry 晶圓代工已不足夠,「封裝與測試(OSAT)的垂直整合能力」 才是未來決定 1.6T 以上光通訊模組市佔率的關鍵。
我們預判,未來 12 個月內,可拆卸式連接器(如 Senko 或 Teramount 方案)將在 AI 推論伺服器中展開大規模驗證。一旦良率瓶頸突破,光纖將不再是 PCB 上的負擔,而是如同插拔式記憶體般靈活的標準組件。




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